Identificación de señales críticas en scan dumps para la depuración de microprocesadores

Abstract

El proceso de depuración de micro procesadores ha ido aumentando de complejidad en relación con los diferentes bloques que se integran dentro del mismo empaquetado. Los métodos clásicos que se utilizan para depuración, se han vuelto insuficientes por la cantidad vasta de datos a analizar. Los diseñadores de estos chips, integran metodologías y herramientas dentro del chip para que en la etapa de Post Silicio puedan ser utilizadas para acelerar la depuración, una de estas metdologies es el uso de Scan Dumps. Los Scan Dumps se pueden describir como el proceso de tomar un snapshot de las señales internas del procesador en un punto de tiempo específico. Este método es muy útil para el proceso de depuración, pues proporciona visibilidad interna del chip, sin embargo, la cantidad de datos a analizar son millones y en ciertos casos, cientos de millones por lo que se vuelve un reto el intentar analizar esta cantidad de información. Los ingenieros de validación, desarrollan reportes con el fin de seleccionar las señales principales que proporcionen la mayor cantidad de información, sin embargo, el método de seleccionar dichas señales es totalmente manual y basado en la experiencia del depurador. El presente trabajo proporciona una metodología para la selección de dichas señales por medio del uso de Selección de Características. Se presentan los pasos y los resultados de dicho proceso.