Caracterización nanomecánica, morfológica y estructural de películas semiconductoras orgánicas base uranilo(VI)

Abstract

En este trabajo se realizó la caracterización morfológica y nanomecánica de seis películas delgadas de semiconductores orgánicos base uranilo(VI) y ftalocianina de cobre (CuFt), depositadas mediante el método de evaporación de alto vacío sobre sustratos de cuarzo y polietilenotereftalato (PET). Para esto fueron utilizados tres complejos de uranilo(VI), cuya composición se diferencia por la presencia de un átomo de nitrógeno en las posiciones orto-, para-, y meta- de su heterociclo. Este trabajo tiene como objetivo determinar la manera en que la diferencia de heterociclo afecta a las propiedades morfológicas y nanomecánicas de esta familia de semiconductores orgánicos por medio de las técnicas de caracterización de Espectroscopia de Energía Dispersa, Microscopía Electrónica de Barrido, así como la Microscopía de Fuerza Atómica. Los resultados de este trabajo permitieron demostrar que la distribución del módulo elástico de estas películas delgadas está relacionada directamente con la topográfica de su superficie, además de que esta se encuentra en promedio en el rango de los MegaPascales (MPa). Por lo anterior, se considera que estos depósitos son deformables y su implementación puede llevarse a cabo para la creación de componentes electrónicos flexibles. Por otro lado, la diferencia heterocíclica de los complejos de uranilo(VI) utilizados se vio involucrada en la creación de estructuras nanométricas que variaban de manera consistente entre las películas depositadas de complejos diferentes sobre una misma base de CuFt.